E DIN EN 61000-4-39 VDE 0847-4-39:2016-09 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV)

E DIN EN 61000-4-39 VDE 0847-4-39:2016-09 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV)

Teil 4-39: Prüf- und Messverfahren – Gestrahlte Felder im Nahbereich – Prüfung der Störfestigkeit (IEC 77B/751/CDV:2016); Deutsche Fassung FprEN 61000-4-39:2016 Art/Status: Norm-Entwurf, gültig Ausgabedatum: 2016-09   Erscheinungsdatum: 2016-08-05 VDE-Artnr.: 1800286 Ende der Einspruchsfrist: 2016-10-05

Ankündigungstext:

Dieser Norm-Entwurf enthält die Deutsche Fassung des Europäischen Norm-Entwurfs FprEN 61000-4-39:2016 und ist identisch mit dem Entwurf der ersten Ausgabe der Internationalen Norm IEC 61000-4-39. Er beschreibt die Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen und elektronischen Betriebsmitteln, Geräten und Einrichtungen gegenüber elektromagnetischen Feldern im Nahbereich mit Frequenzen zwischen 9 kHz bis 6 GHz. Hierbei bedeutet Nahbereich, dass sich die Feldquelle in einem Abstand befindet, der für Frequenzen unterhalb 26 MHz kleiner als 500 mm und für Frequenzen oberhalb 26 MHz kleiner als 200 mm ist. Neben den notwendigen Definitionen werden empfohlene Prüfschärfegrade (Prüfpegel) für die Prüfung mit inhomogenen Magnetfeldern im Frequenzbereich von 9 kHz bis 26 MHz und für die Prüfung mit hochfrequenten elektromagnetischen Feldern im Frequenzbereich von 385 MHz bis 6 GHz festgelegt, während Festlegungen für den Bereich von 26 MHz bis 385 MHz gegenwärtig noch in Beratung sind. Ferner werden in dieser Norm Festlegungen zur Prüfeinrichtung, zur Einstellung des für die Prüfung verwendeten Feldes (Verfahren mit konstanter Feldstärke und Verfahren mit konstanter Leistung), zum Prüfaufbau, zum Prüfverfahren, zur Bewertung der Prüfergebnisse sowie zum Prüfbericht gegeben. Hierbei wird eine Rahmenantenne für die Erzeugung der inhomogenen Magnetfelder und eine TEM-Hornantenne für die Erzeugung der hochfrequenten elektromagnetischen Felder verwendet. Festlegungen zu den beiden Antennen sind im Hauptteil des Entwurfs vorhanden und für die TEM-Hornantenne insbesondere auch im Anhang A, der sich mit den drei als wesentlich erachteten Parametern Frequenzbereich, Spannungs-Stehwellenverhältnis und Feldverteilung befasst.
Der Anhang B enthält zusätzliche Informationen zu den Prüffrequenzen, Prüfpegeln und verwendeten Modulationen des Prüfstörsignals.
Die geplante Norm bezweckt, Festlegungen zur Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen und elektronischen Betriebsmitteln, Geräten und Einrichtungen zur Verfügung zu stellen, um diese erforderlichenfalls in die Lage zu versetzen, gegen Felder im Nahbereich immun zu sein. Hierbei wird reflektiert, dass die zunehmende Nutzung von Geräten mit drahtloser Kommunikationstechnologie vermehrt zu solchen Nahfeldsituationen für die Geräte führt. Ein typisches Beispiel ist der Betrieb eines Mobiltelefons in der Nähe eines Geräts oder auch die Ablage eines Mobiltelefons auf einem Gerät. Ein weiterer Anwendungsfall stellt die zunehmende Nutzung von Artikelüberwachungs- und RFID-Systemen dar. Dabei wird ferner berücksichtigt, dass neuere Technologien nicht nur elektromagnetische HF-Felder, sondern auch inhomogene Magnetfelder mit Frequenzen unterhalb 26 MHz nutzen. Eine Anleitung für die Berechnung von Feldstärken in Abhängigkeit von verschiedenen felderzeugenden Quellen (schnurlosen Diensten) und dem Berechnungsabstand wird in diesem Entwurf in Form der Tabelle B.1 gegeben.
Bei der Entwicklung der in diesem Entwurf beschriebenen Verfahren wurden bereits anderweitig beschriebene Verfahren (die andere Antennen nutzen und teilweise in Bezug auf Frequenzbereich und mögliche Prüflingsgröße stärker eingeschränkt sind) gesichtet und auch Aspekten wie die Reproduzierbarkeit der Prüfergebnisse, den mit den Prüfungen verbundenen Kosten und Zeitaufwand Rechnung getragen.
Gegenüber der vorhergehenden Ausgabe wurde ein neuer informativer Anhang J zur Messunsicherheit bei der Einstellung der Prüf-Feldstärke, die durch die Prüfeinrichtung verursacht wird, ergänzt.
Zuständig ist das DKE/UK 767.3 „Hochfrequente Störgrößen“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.

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Ausgabe:

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